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當(dāng)前位置:德國韋氏納米系統(tǒng)(香港)有限公司>>產(chǎn)品展示>>薄膜測量系統(tǒng)
薄膜反射儀是一款相對較低成本和操作簡單的工具?;陉嚵械奶綔y器系統(tǒng)保證快速測量,可升級到MSP(顯微分光光度計)系統(tǒng),SRM映射系統(tǒng),多通道系統(tǒng),大點的...
光學(xué)接觸角測量儀可根據(jù)客戶的需求,針對不同的工作測試環(huán)境,提供相應(yīng)的解決方案,如有技術(shù)請咨詢德國韋氏納米系統(tǒng)
在硅片等基板上附膜時,由于基板和薄膜的物理定數(shù)有異,產(chǎn)生應(yīng)力,進(jìn)而引起基板變形。由涂抹均勻的薄膜引起的變形的表現(xiàn)為基板的翹曲,而薄膜應(yīng)力測量裝置FLX系列可從這...
橢偏儀是一種利用偏振態(tài)的變化 后光束探測樣品反應(yīng)技術(shù)。不像反射儀,參數(shù)(PSI和Del)是在非正常的入射角得到。改變?nèi)肷浣???梢缘玫礁嗟臄?shù)據(jù)集,這將有助于精煉...
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